定制QFN48pin-0.4mm翻盖手测芯片测试座socket-鸿怡电子

定制QFN48pin-0.4mm翻盖手测探针测试座

QFN48pin芯片测试座参数：

本体尺寸：6*6mm

引脚中心间距：0.4mm

芯片测试座结构:翻盖式

Socket壳体：合金+PEEK

探针材料：铍铜

探针镀层：镍金

操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比

接触阻抗：50mΩmax

耐压测试：700V AC for 1minute

绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC

最大电流：1A

使用温度：-45°C-+125°C

机械寿命：大于8000次(机械测试)

工程师：13823541217张工

鸿怡电子生产的QFN48pin-0.4mm-6*6mm芯片测试座产品介绍

适用规格	16-88pin，0.4、0.5、1.27引脚间距QFN/LCC封装的IC
支持频率	≤300Mhz
温度范围	-45℃-125℃
操作力压	35g每pin，PIN越多需要压力越大
额定电流	单PIN1A
接触电阻	≤100毫欧
绝缘电阻	DC500V1000兆欧以上
QFN/DFN封装、有的也称为LCC、翻盖式结构测试座支持EEPROM，驱动器IC，电源IC等QFN封装,芯片测试座009系列.有翻盖式、旋钮翻盖式、双扣式、分离式结构、下压开窗结构适合自动机台