传感器芯片/模块测试解析：主流封装引脚与鸿怡电子传感器芯片测试座

AI智能、工业自动化、自动驾驶产业的高速发展，推动传...

AI 时代的 “光速引擎”：光模块-芯片才是其核心大脑-鸿怡电子光模块芯片测试座

光模块正从“光学零件”向“光电子系统”演进，核心驱动...

芯片HAST高加速应力测试失效性分析:测试标准-鸿怡电子芯片hast老化座+老化板

HAST测试作为芯片湿热可靠性验证的核心手段，其失效...

大阵列排布1000~15000+Pin芯片测试:鸿怡电子芯片测试座结构设计及场景化应用

常规通用测试治具已无法适配其严苛测试需求，定制化、高...

芯片FT（Final Test）最终测试：芯片测试架构与芯片测试座Socket

FT（FinalTest）最终测试是芯片封装后、出货...

鸿怡电子芯片测试座设计工程师带您了解RFSOC射频芯片定义与测试

RFSOC芯片作为单芯片射频系统，核心优势在于高集成...

芯片测试中如何定义芯片测试夹具、治具、工装，有什么区别呢？

简单来说：夹具是“信号桥梁”，治具是“标准化测试平台...

手机LPDDR5芯片245/315/496/1295 pin脚的核心定义与鸿怡电子测试座适配选型

手机LPDDR5采用LGA封装，核心是LGA封装的“...

芯片核心性能老化测试-鸿怡电子IC老化板（IC Burn-in Board）

芯片可靠性老化测试的核心目标，是通过模拟芯片全生命周...

算力之巅，测试为基：鸿怡电子GPU芯片测试治具高严苛测试适配多种规格

鸿怡电子深耕高端芯片测试治具领域，针对英伟达全系列G...