从测试类型倒推设计:鸿怡电子IC测试座在材料、结构与接触介质上的取舍逻辑

IC测试座的选型，本质上是在"封装几何—电气性能—环...

关于RF Module 射频模块测试座,为什么它决定了数据值不值得信？

射频模块的测试条件看着是六类，说到底就是同一条链路的...

图像传感器模块核心测试:从 DV 验证到产线 FT 终测,再到传感器模块测试座socket的测试闭环

图像传感器模组的测试，说到底是光学性能、电气可靠性、...

鸿怡电子工程师:芯片测试座是决定芯片能不能“测得过得”的守门工具

一颗芯片流片回来，工程师做的第一件事不是庆祝，是上电...

BGA441pin芯片测试座是如何保障芯片接触稳定性、信号完整性、耐高温的

目前鸿怡电子的存储芯片测试座方案已批量应用于国内头部...

芯片到底在测什么？芯片测试座又该如何选配—鸿怡电子IC测试座工程师为您解惑

芯片测试从来不是"插上电跑个程序"那么简单——从CP...

微间距传感器芯片的可靠性测试：鸿怡电子0.05mm间距时代的工程测试挑战

FPC软排线在这一环节展现出了结构上的适配性。柔性电...

LGA72pin算力供电芯片大电流测试座烧针解决方案

选用匹配电流规格的测试座，不能简单沿用通用标准Soc...

光电器件测试：COB光源为什么越来越“难测”？鸿怡电子光电器件SMD测试座解决方案

COB光源的测试难点，不在“能不能测”，而在“测得准...

AI算力供电芯片测试座/老化座：从国产替代-非标定制-标准品落地-鸿怡HMILU测试座整套解决方案

AI算力供电芯片正在经历从“能供电”到“高效供电”、...