核心算力载体:人工智能AI芯片测试基石-鸿怡电子高可靠性芯片测试座

AI芯片测试正朝着高精度、宽适配、全周期的方向演进，...

数据中心算力枢纽:国产存储芯片测试“桥梁”-鸿怡电子DDR芯片测试夹具治具

存储芯片作为数据中心与数字终端的核心基石，其技术迭代...

鸿怡电子IC测试座:数字电路测试、模拟电路测试和数模混合电路测试的特性

数字、模拟、数模混合电路的测试特性差异，决定了IC测...

芯片宽温测试座:解决芯片在不同温度下的可靠性和稳定性测试

在汽车电子领域，鸿怡电子芯片测试座已广泛应用于车载M...

电源管理芯片:LDO-DC/AC-BMS-驱动-开关电源等芯片测试-适配测试座socket案例

低压差线性稳压器、DC/AC转换器、电池管理芯片、驱...

处理器芯片封装测试:特性-测试类型-适配处理器芯片测试座socket

CPU、GPU、DSP、APU等处理器芯片因定位不同...

液冷赋能下AI芯片/模块老化测试的技术突破与适配测试治具实践

液冷技术的高效散热能力，为130℃高温老化环境提供了...

电流传感器测试:霍尔效应线性电流传感器特性-鸿怡传感器测试适配测试座socket

霍尔效应线性电流传感器凭借2200V高隔离耐压、双向...

电源模块测试:五款核心电源模块特性及老化测试的必要性

老化测试作为保障电源模块可靠性的关键环节，能够有效筛...

商业航天级抗辐照MCU芯片LQFP144pin测试-QFP芯片测试座应用适配

LQFP144pin封装的商业航天级抗辐照MCU芯片...