深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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BGA封装系列
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定制LCC96-0.4合金旋钮翻盖测试治具

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-45°C ~+125°C
7、使用寿命:大于25,000 Times(Mechanical)
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试治具结构:旋钮翻盖式
10、测试架材料:合金+PEEK
11、中心引脚间距:0.8mm

深圳鸿怡电子生产定制LCC96-0.4合金旋钮翻盖测试治具产品简介

• 适配客户现有PCBA,无需重新layout,周边器件无需挪动位置。

• 兼具探针测试座有点:结构紧凑、操作简单(无需对产线工人过多培训)、机械寿命长、维护成本低,可单独更换探针。

• 可做多工位治具,对同一板子上不同芯片同时进行测试,减少产线操作工与工位,提供生产效率。

定制 BGA200-0.8  14.5*10手机测试治具 图纸:无(按PCB测试底板加工而成)
定制 定制LCC96-0.4合金旋钮翻盖测试治具 产品展示
  • 20250805114753000248/resource/images/d0f3d694356042228c19b57605a5c2e5_20.jpgLCC封装芯片测试架
  • 20250805114753000248/resource/images/d0f3d694356042228c19b57605a5c2e5_22.jpgLCC测试架
  • 20250805114753000248/resource/images/d0f3d694356042228c19b57605a5c2e5_24.jpgLCC芯片测试架
  • 20250805114753000248/resource/images/d0f3d694356042228c19b57605a5c2e5_26.jpgLCC芯片测试架socket
  • 20250805114753000248/resource/images/d0f3d694356042228c19b57605a5c2e5_30.jpg芯片测试治具socket
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