深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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SOP/OTS封装系列
  • TSSPOP封装芯片测试座
  • TSSOP48测试座
  • TSSOP封装芯片夹具插座
  • TSSOP芯片探针测试座
定制TSSOP48-0.5mm芯片测试座

TSSOP芯片老化测试座参数:
Socket壳体:PEI
探针材料:铍铜
探针镀层:镍金
操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比
接触阻抗:50mΩmax
耐压测试:700V AC for 1minute
绝缘阻抗:1000mΩ 500V
DC最大电流:1A
使用温度:-40°C-+155°C
机械寿命:20000次(机械测试)


鸿怡电子生产定制TSSOP48-0.5(本体.6.1x12.5mm)合金翻盖旋钮探针测试座产品介绍
适用规格 支持0.5、0.635、0.65引脚间距TSSOP封IC
支持频率 ≤300Mhz
温度范围 -55°C~+175°C
操作力压 1.0Kg MAX
额定电流 1Amax/Pin
接触电阻 30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
绝缘电阻 1000mΩMin.At DC 500V
TSSOP封装翻盖结构老化测试座
支持高精度运算芯片、运算放大器芯片、信号处理和数据传输芯片、逻辑芯片等测试、老化、烧录等检测
TSSOP48-0.5mm芯片规格参数

芯片测试座

TSSOP48-0.5mm芯片测试座图纸

芯片老化座

TSSOP48-0.5mm测试座产品展示
  • TSSPOP封装芯片测试座_500x405
    IC老化测试座
  • TSSOP48测试夹具_500x405
    TSSOP芯片老化测试socket
  • TSSOP48测试座_500x405
    TSSOP芯片老炼测试夹具
  • TSSOP封装芯片夹具插座_500x405
    TSSOP芯片老化测试座
  • TSSOP芯片探针测试座_500x405
    芯片老炼测试夹具
  • TSSOP48测试座_500x405
    芯片老化测试座