深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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QFP/OTQ封装系列
  • LQFP128烧录座
  • LQFP128编程座
  • QFP128测试座
  • QFP128老化座
  • QFP128老炼夹具
  • MCU读写插座
定制QFP128-0.4(14x14)探针烧录座老化socket

LQFP128 烧录座(Socket),是适配 LQFP128(四方扁平封装、128 引脚)MCU、FPGA、SOC 等芯片的专用可编程测试插座,属于 IC 烧录测试工装。

采用翻盖旋钮压扣结构,精准匹配封装外形、引脚间距,通过弹性触点和烧录器、测试板建立可靠电气连接;

无需焊接,可快速装卸芯片,分为普通常温烧录座、高温老化座、高耐磨量产款,广泛用于芯片程序烧写、功能测试、老化筛选环节,解决 LQFP 密脚芯片直接焊接烧录易伤引脚、效率低、不可复用的痛点。

销售工程师:黄小二13622364332,huang@hydz999.com

鸿怡电子生产的定制QFP128-0.4(14x14)探针烧录座老化socket产品简介


核心作用

  1. 程序烧录:作为烧录器与芯片之间的转接载体,将固件、程序、配置参数写入空白 MCU、主控芯片,支持单颗或多颗并行烧录。
  2. 免焊快速接驳:芯片放座内压合即可导通,不用每颗芯片贴片焊接、拆焊,避免密脚引脚变形、虚焊、掉点,保护芯片。
  3. 功能与电气测试:烧录完成后,直接在该座上做通信、IO、ADC、时钟、功耗等功能验证,快速筛选不良芯片。
  4. 老化筛选(兼容老化座版本):搭配高低温箱,在温变环境下做通电老化、可靠性测试,提前剔除早期失效芯片。
  5. 量产降本增效:可反复使用,适合研发调试 + 批量生产,减少焊盘损耗、返修工时,提升烧录测试工位吞吐。
  6. 适配转接:统一封装接口,方便同封装不同型号芯片共用一套工装,快速切换项目。

应用场景



LQFP128-0.4mm芯片图纸

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LQFP128-0.4mm芯片测试座图纸

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定制QFP128-0.4(14x14)探针烧录座老化socke 产品展示
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    LQFP128烧录座
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    LQFP128编程插座
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    LQFP128老化座
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    LQFP128老炼夹具
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    MCU编程读写座
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    QFP芯片测试座