深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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BGA封装系列
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  • 传感器测试治具
  • PGA老化夹具
定制PGA66-1.27(33.5x38x8.6)测试座

芯片封装:PGA
pin脚数:66pin
引脚中心距:1.27mm
IC尺寸:33.5x38mm
结构类型:翻盖式
温度范围:-55℃~+155°C
定制PGA测试夹具联系:黄工13622364332(备注来源:网站)

深圳鸿怡电子生产定制PGA66-1.27(33.5x38x8.6)测试座产品简介

定制PGA66-1.27(33.5x38x8.6)测试座


PGA(Pin Grid Array)指的是引脚阵列封装,它是一种常见的电子器件封装形式。在PGA封装中,芯片引脚呈类似网格状的排列,量产时需要将芯片通过焊接固定在印刷电路板上。
PGA封装适用于I/O引脚数量较多的集成电路,如微处理器、图像处理器、FPGA等。

端子板只能做常规导通测试,如需高频大电流可联系客服咨询其他设计方案  

鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket和Test-Socket,产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等。

中心引脚间距:1.27mm

适配芯片尺寸:33.5*38mm

PGA66-1.27(33.5x38x8.6)测试座芯片图纸

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定制PGA66-1.27(33.5x38x8.6)测试座图纸

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PGA66-1.27(27x27x8.1)芯片测试座产品展示
  • 20250805114753000248/resource/images/8af2ff75524941c5b6154813916bc22b_20.jpgPGA测试座
  • 20250805114753000248/resource/images/8af2ff75524941c5b6154813916bc22b_22.jpgPGA测试夹具
  • 20250805114753000248/resource/images/8af2ff75524941c5b6154813916bc22b_24.jpgPGA老化座
  • 20250805114753000248/resource/images/8af2ff75524941c5b6154813916bc22b_26.jpgPGA老化夹具
  • 20250805114753000248/resource/images/8af2ff75524941c5b6154813916bc22b_28.jpgPGA芯片测试座
 20250805114753000248/resource/images/8af2ff75524941c5b6154813916bc22b_30.jpgPGA测试socket