深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
返回产品中心
LCC/CLCC封装系列
  • LGA14测试socket
  • LGA14测试夹具
  • LGA14测试座
  • LGA14测试工装
  • LGA14一拖九测试座
定制LGA14-0.5-3x2.5一拖九旋钮双扣探针测试座

支持频率:≤800Mhz

温度范围:-45℃-155℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN1A max

接触电阻:≤100毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>8万次

中心引脚间距:0.5mm

适配芯片尺寸:2.5x3mm

工程师:13622364332(微信同号)

鸿怡电子生产的定制LGA14-0.5-3x2.5一拖九旋钮双扣探针测试座产品简介

LGA封装芯片测试座,LGA模块测试座socket:

LGA封装是一种电子元器件封装技术,它基于Land Grid Array(LGA)连接器的设计原理,用于将集成电路芯片与印刷电路板(PCB)相连接。LGA封装具有许多优点,如较高的可靠性、良好的散热性能和较低的插拔力等
鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket和Test-Socket,产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等。


LGA14-0.5-3x2.5mm芯片规格参数

20250805114753000248/resource/images/7030ca8c3e9b4b88b8f0399f699137d0_14.jpg

定制LGA14-0.5-3x2.5一拖九旋钮双扣探针测试座 图纸

20250805114753000248/resource/images/7030ca8c3e9b4b88b8f0399f699137d0_16.jpg

定制LGA14-0.5-3x2.5一拖九旋钮双扣探针测试座 产品展示
  • 20250805114753000248/resource/images/7030ca8c3e9b4b88b8f0399f699137d0_18.jpg
    LGA14测试座
  • 20250805114753000248/resource/images/7030ca8c3e9b4b88b8f0399f699137d0_20.jpg
    LGA14测试socket
  • 20250805114753000248/resource/images/7030ca8c3e9b4b88b8f0399f699137d0_22.jpg
    LGA14测试夹具
  • 20250805114753000248/resource/images/7030ca8c3e9b4b88b8f0399f699137d0_24.jpg
    LGA14测试治具
  • 20250805114753000248/resource/images/7030ca8c3e9b4b88b8f0399f699137d0_26.jpg
    LGA14芯片底座