深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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LGA封装系列
  • LGA144测试夹具
  • LGA144测试插座
  • LGA144测试socket
  • LGA TF socket
  • 模组测试夹具
  • 芯片测试socket
定制LGA144-0.7自动化FT测试座socket

LGA144测试座的常见应用场景

1. 功能 / 电参数测试:实验室样品验证、产线成品分选,筛选功能不良芯片;

2. IC 烧录:搭配烧录板,给 LGA144 芯片写入固件程序;

3. 老化测试(Burn-in 座):耐高温版本,在高低温环境长时间通电,加速暴露芯片早期缺陷,验证长期可靠性(车规 / 工业芯片常用)。

销售工程师:黄小二13622364332,huang@hydz999.com


鸿怡电子生产定制的LGA144pin芯片测试座socket产品简介

LGA封装芯片测试座,LGA模块测试座socket:

LGA封装是一种电子元器件封装技术,它基于Land Grid Array(LGA)连接器的设计原理,用于将集成电路芯片与印刷电路板(PCB)相连接。LGA封装具有许多优点,如较高的可靠性、良好的散热性能和较低的插拔力等
鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket和Test-Socket,产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等。

LGA144pin芯片图纸

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LGA144pin芯片测试座图纸

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定制LGA144pin芯片测试座socket产品展示
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    IC测试座
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    LGA芯片测试夹具
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    LGA模块测试座
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    LGA芯片测试socket
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    定制LGA测试座
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    芯片测试座