LCC(无引脚陶瓷芯片载体)老化座,也叫 LCC 老炼插座,是专门适配LCC 无引脚封装芯片的老化测试专用 Socket,放置在老化板上,是芯片 HTOL 高温工作寿命、加速老化筛选的核心接口夹具。
核心作用
1. 可靠电气连接,免焊接
把 LCC 芯片侧边焊盘与老化电路板稳定连通,无需焊接芯片;依靠精密探针 / 弹片接触,长期高温下保持稳定接触电阻,持续供电、施加信号,完成长时间老化应力测试,测试完成后可快速取下芯片,芯片可复用或分选。
2. 加速老化筛选(最主要用途)
配合老化箱,在**高温、额定电压等加速应力条件下长时间通电运行(几百至上千小时),提前激发芯片内部潜在缺陷,筛除早期失效芯片,剔除工艺、材料隐性不良,提升车规 / 工业 / 军品芯片出厂可靠性。
3. 宽温环境适配
耐高温特种塑胶 + 铍铜镀金接触结构,可承受 - 40~150℃甚至更高的长期高温,在持续高温老化、温度循环测试中,减少热胀冷缩带来的接触失效,适配 AEC-Q100、MIL 等可靠性验证标准。
4. 保护芯片
+ 标准化定位
精准限位 LCC 芯片,压盖 / 翻盖结构提供均匀下压压力,避免压碎陶瓷封装、损伤侧边焊盘;支持多工位老化板批量放料,量产老化测试、实验室可靠性验证都可使用。

LCC芯片老化座




鸿怡电子工程师:芯片测试座是决定芯片能不能“测得过得”的守门工具
BGA441pin芯片测试座是如何保障芯片接触稳定性、信号完整性、耐高温的
芯片到底在测什么?芯片测试座又该如何选配—鸿怡电子IC测试座工程师为您解惑
微间距传感器芯片的可靠性测试:鸿怡电子0.05mm间距时代的工程测试挑战
LGA72pin算力供电芯片大电流测试座烧针解决方案
光电器件测试:COB光源为什么越来越“难测”?鸿怡电子光电器件SMD测试座解决方案
AI算力供电芯片测试座/老化座:从国产替代-非标定制-标准品落地-鸿怡HMILU测试座整套解决方案
鸿怡HMILU测试socket工程师:LPDDR4完整性测试从连通性到应力压测的五步验证体系