深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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定制LCC36射频RF同轴测试座socket

射频模块测试座产品特点:
高频率测试:最高频率可达-1~-3dB@30GHz
定位精准度高:加工工艺可达 -+0.01MM
寿命长:寿命可达10万次(探针机械寿命可达15-20万)
稳定性高:采用合金材料,耐磨损20-30万次,耐高低温-45℃~+155℃。
可维护性高:采用模块化设计,全配件可单独更换。
可标准化:产品设计周期短,交货速度快。


鸿怡电子生产定制LCC36射频RF同轴测试座socket产品介绍

LCC36芯片射频测试座产品参数

封装类型:LCC
引脚位数:36
中心间距:0.65mm
本体尺寸:7.8*7.8mm
射频RF测试座产品特点
1、 采用手动翻盖旋钮式结构,操作方便;
2、上盖的IC压板采用翻盖旋钮式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
3、探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
4、高精度的定位槽,保IC定位以及焊盘精确导通;
5、采用浮板结构有球无球都能测
6、镀金探针材料
7、探针可更换,维修方便,成本低
8、绝缘材料制作;
9、最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离);

LCC36-0.65(7.8x7.8)芯片图纸

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LCC36-0.65(7.8x7.8)射频测试座 图纸

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LCC36-0.65(7.8x7.8)射频测试座 产品展示
  • 20250805114753000248/resource/images/36f6ef709bbe4009884b04892e37ade8_18.jpgBGA射频芯片测试座
  • 20250805114753000248/resource/images/36f6ef709bbe4009884b04892e37ade8_20.jpgFR射频测试夹具
  • 20250805114753000248/resource/images/36f6ef709bbe4009884b04892e37ade8_22.jpg射频IC测试socket
  • 20250805114753000248/resource/images/36f6ef709bbe4009884b04892e37ade8_24.jpg射频芯片测试治具
  • 20250805114753000248/resource/images/36f6ef709bbe4009884b04892e37ade8_26.jpg射频芯片FR测试socket