深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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IC/芯片老化板
  • HAST试验板
  • THB试验
  • 双85老化板
  • BHAST老化夹具
  • DFN老化测试
  • DFN老化socket
定制DFN14-80工位老化板-HAST试验

老化座特性:定制探针式,接触稳定寿命高,易维修。

HAST寿命: +130℃@85%RH,≥500小时 

支持定制:BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP.TO,SMD等器件封装应用于HTOL,LTOL,HAST,HTRB,HTGB,H3TRB.大功率老化等各种Bun-in场景老化测试板-(Burn-in Board)助力企业降本增效  提高产品测试良率

销售工程师:黄小二13622364332(vx同号)

邮箱huang@hydz999.com

老化座参数
适用 DFN14PIN封装芯片
座子 翻盖>适用于间距0.3mm-2.54mm
测试座材料 PEI+30%纤
座头材料 PEI+30%纤
导电材质 镀金探针
工作温度 -55度~+150度
老化寿命 +130℃ 85%RH 500H
电流 1A
电压 700V
电阻 100毫欧
产品展示
  • 20250805114753000248/resource/images/f17e787fcf2745c685c51b84c0721ee7_16.jpgHAST老化板
  • 20250805114753000248/resource/images/f17e787fcf2745c685c51b84c0721ee7_18.jpgHAST试验PCB板
  • 20250805114753000248/resource/images/f17e787fcf2745c685c51b84c0721ee7_20.jpgTHB双85试验夹具
  • 20250805114753000248/resource/images/f17e787fcf2745c685c51b84c0721ee7_22.jpgBHAST老化方案
  • 20250805114753000248/resource/images/f17e787fcf2745c685c51b84c0721ee7_24.jpghast老化夹具