SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-45°C ~+125°C
7、使用寿命:大于25,000
Times(Mechanical)
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试座结构:翻盖式
10、测试座材料:PEI+PEEK
11、中心引脚间距:0.5mm
12、适配芯片尺寸:13*13mm
BGA392pin芯片测试夹具socket
BGA封装技术
BGA (Ball Grid Array)-球状引脚栅格阵列封装技术,高密度表面装配封装技术。在封装底部,引脚都成球状并排列成一个类似于格子的图案,由此命名为BGA。主板控制芯片组多采用此类封装技术,材料多为陶瓷。采用BGA技术封装的内存,可以使内存在体积不变的情况下,内存容量提高两到三倍,BGA与TSOP相比,具有更小体积,更好的散热性能和电性能。BGA封装技术使每平方英寸的存储量有了很大提升,采用BGA封装技术的内存产品在相同容量下,体积只有TSOP封装的三分之一;与传统TSOP封装方式相比,BGA封装方式有更加快速有效的散热途径。
鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket和Test-Socket,产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等。
中心引脚间距:0.5mm,BAG32pin芯片支持0.45mm,0.5mm,0.75mm,0.8mm,1.0mm,1.27mm等。
适配芯片尺寸:13*13mm
BGA封装芯片测试座
芯片测试夹具
BGA芯片测试座
BGA392pin芯片测试socket
BGA芯片测试socket
BGA芯片测试夹具
深圳市鸿怡电子有限公司-2026年春节放假通知
核心算力载体:人工智能AI芯片测试基石-鸿怡电子高可靠性芯片测试座
数据中心算力枢纽:国产存储芯片测试“桥梁”-鸿怡电子DDR芯片测试夹具治具
鸿怡电子IC测试座:数字电路测试、模拟电路测试和数模混合电路测试的特性
芯片宽温测试座:解决芯片在不同温度下的可靠性和稳定性测试
电源管理芯片:LDO-DC/AC-BMS-驱动-开关电源等芯片测试-适配测试座socket案例
处理器芯片封装测试:特性-测试类型-适配处理器芯片测试座socket
液冷赋能下AI芯片/模块老化测试的技术突破与适配测试治具实践