深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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IGBT和新能源系列
  • T2PAK老炼夹具
  • PAK封装socket
  • SIC老化座
  • IGBT老化socket
  • HTOL试验夹具
  • HTRB老化座
T2PAK封装SiC老化座夹具socket

T2PAK封装老化座参数:

Socket壳体:PEI

测试座结构:open top

接触Pin针:铍铜镀镍镀金

接触阻抗:<100mΩ

耐压测试:700V AC for 1minute

绝缘阻抗:1000mΩ 500V DC

最大电流:1A

使用温度:-45°C ~ +150°C

老化寿命:大于3000小时

机械寿命:大于15000次(机械测试)

销售工程师:黄小二13622364332(vx同步)

邮箱:huang@hydz999.com

鸿怡电子生产T2PAK封装open top老化座(产品介绍)
适用规格 适用于T2PAK封装
支持频率 ≤300Mhz
温度范围 -45℃-150℃
操作力压 35g每pin,PIN越多需要压力越大
额定电流 单PIN1A
接触电阻 ≤100毫欧
绝缘电阻 DC500V1000兆欧以上
T2PAK封装open top结构老化座
支持SIC、EEPROM,驱动器IC,电源IC等QFN封装,芯片测试座009系列.有翻盖式、旋钮翻盖式、双扣式、分离式结构、下压开窗结构适合自动机台
T2PAK封装 芯片规格参数

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T2PAK封装open top老化座 图纸

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T2PAK封装open top老化座 产品展示
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    DFN老化座
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    burn-in socket
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    DFN测试夹具
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    DFN读写插座
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    DFN烧录座