深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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QFN/DFN封装系列
  • OPEN TOP烧录座
  • QFN32老化夹具
  • QFN测试socket
  • QFN自动化烧录插座
  • QFN探针夹具
定制QFN32-0.5(5x5)烧录座open top

QFN32pin芯片测试座参数:

适配IC尺寸:5*5*0.85mm

间距:0.5mm

结构:OPEN TOP

Socket壳体:PEI+PEEK

频率:≤2.4Ghz

最大电流:1A

使用温度:-45°C-+125°C

机械寿命:大于80000次(机械测试)

销售工程师:黄小二13622364332(VX同步)

邮箱:huang@hydz999.com

鸿怡电子生产的QFN32pin-0.5mm-5*5*0.85mm芯片老化测试座产品介绍
适用规格 16-88pin,0.4、0.5、1.27引脚间距QFN/LCC封装的IC
支持频率 ≤2.4Ghz
温度范围 -45℃-125℃
操作力压 35g每pin,PIN越多需要压力越大
额定电流 单PIN1A
接触电阻 ≤100毫欧
绝缘电阻 DC500V1000兆欧以上
QFN/DFN封装、有的也称为LCC、翻盖式结构测试座
支持EEPROM,驱动器IC,电源IC等QFN封装,芯片测试座009系列.有翻盖式、旋钮翻盖式、双扣式、分离式结构、下压开窗结构适合自动机台
QFN32pin-0.5mm芯片图纸

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QFN32pin-0.5mm芯片老化测试座图纸

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QFN32pin-0.5mm芯片老化测试座产品展示
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    oepn top socket
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    QFN32烧录座
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    QFN32自动化烧录夹具
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    QFN32测试座
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    QFN32老化插座