核心作用

1. 可靠电气连接，实现老化加电 针对 2.5×3.0mm 小尺寸 LGA14 焊盘布局，老化座精准对应芯片 14 个 LGA 焊盘，在高温老化箱内稳定导通供电、信号采集。让陀螺仪芯片在设定高温环境下持续上电工作，模拟长期使用工况，实时监测芯片输出角速度、噪声、温漂等关键指标，不会因为高温、反复取放造成接触不良、信号断连。
2. 高温环境下稳定承载，适配老化工况 老化座选用耐高温绝缘基材与高耐磨探针，可在老化标准温度区间（通常 85℃/125℃等）长时间持续工作，承受高低温循环，适配 MEMS 陀螺仪常规老化条件；适配小尺寸 2.5×3.0mm LGA 芯片定位，定位限位精准，防止芯片放偏、压伤芯片脆弱的 MEMS 结构层。
3. 批量老化筛选，提升测试效率 可做成单颗或多联排老化座，大批量同时装载 LGA14 陀螺仪芯片，一次性送入老化箱进行并行老化。替代人工接线，芯片可快速放取、批量换料，缩短老化上下料时间，适合工厂量产阶段的可靠性筛选，满足陀螺仪大批量可靠性老化需求。
4. 保护芯片本体，避免直接损伤 陀螺仪内部是精密 MEMS 微结构，焊盘细小。如果直接夹持、焊接做老化，极易刮伤焊盘、震坏内部敏感微结构。老化座通过弹性探针接触焊盘，非焊接式接触，老化完成后芯片可无损取出，不破坏芯片本体，良品可直接流入下道工序。
5. 辅助筛选早期失效品，保障成品良率 MEMS 陀螺仪很多隐性缺陷会在高温带电运行一段时间后暴露：零点漂移变大、输出异常、间歇性失效等。借助老化座持续通电带载老化，配合测试系统抓取参数，把早期失效芯片提前筛选剔除，避免组装到终端产品后出现漂移、失灵、姿态检测不准等问题，提升陀螺仪模组、惯性导航产品的长期稳定性。