晶圆级WLCSP封装测试座:
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-55°C ~+155°C
7、机械寿命:大于10万次
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试座结构:合金翻盖式
10、测试座材料:AL6061+peek
11、中心引脚间距:0.5mm
12、适配芯片尺寸:2.3x5.8mm
联系工程师:黄小二13622364332
邮箱:huang@hydz999.com
设计:鸿怡电子 HMILU
封装:wlcsp35-0.5mm
尺寸:2.3X5.8mm
结构:翻盖式,操作方便简单
材质:铝合金外壳+Peek针板+镀金探针
用途:芯片设计,广泛应用于芯片测试、老化、烧录等场景
优点:无损伤接触,信号稳定,适用研发与量产,维护成本低
生产:鸿怡电子 HMILU





光电器件测试:COB光源为什么越来越“难测”?鸿怡电子光电器件SMD测试座解决方案
AI算力供电芯片测试座/老化座:从国产替代-非标定制-标准品落地-鸿怡HMILU测试座整套解决方案
鸿怡HMILU测试socket工程师:LPDDR4完整性测试从连通性到应力压测的五步验证体系
万物应用:柔性电路板FPC连接器-从FPC连接器参数到测试微针模组的多场景应用
DC~DC电源芯片多封装应用与测试-HMILU电源芯片测试座socket适配
数字信号处理器DSP芯片测试与老化-鸿怡电子LQFP封装芯片案例与socket适配
鸿怡电子芯片测试座国产替代解决方案:芯片封装类型命名-国内与国外叫法对比
BGA封装芯片:从封装类型-行业应用到鸿怡电子芯片老化座/测试座的测试协同