深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
返回产品中心
WLCSP封装系列
  • wlcsp烧录座
  • wlcsp测试座
  • wlcsp测试socket
  • 晶圆级测试夹具
  • BGA测试插座
定制晶圆级wlcsp35封装测试座烧录夹具

晶圆级WLCSP封装测试座:

1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For1 Minute At AC 700V

3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)

5、额定电流:1A max/Pin.

6、工作温度:-55°C ~+155°C

7、机械寿命:大于10万次

8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)

9、测试座结构:合金翻盖式

10、测试座材料:AL6061+peek

11、中心引脚间距:0.5mm

12、适配芯片尺寸:2.3x5.8mm

联系工程师:黄小二13622364332

邮箱:huang@hydz999.com

深圳鸿怡电子生产定制wlcsp35-0.5翻盖探针测试座socket产品简介

🔹 产品简介

设计:鸿怡电子  HMILU 

封装:wlcsp35-0.5mm 

尺寸:2.3X5.8mm

结构:翻盖式,操作方便简单

材质:铝合金外壳+Peek针板+镀金探针


用途:芯片设计,广泛应用于芯片测试、老化、烧录等场景

优点:无损伤接触,信号稳定,适用研发与量产,维护成本低

生产:鸿怡电子 HMILU 

🔹 核心优势

wlcsp35-0.5mm芯片图纸

20250805114753000248/resource/images/803ab12593f44d7e90a389b1985ba771_14.jpg

wlcsp35-0.5mm 测试座图纸

20250805114753000248/resource/images/803ab12593f44d7e90a389b1985ba771_16.jpg

wlcsp35-0.5mm 测试座socket产品展示
  • 20250805114753000248/resource/images/803ab12593f44d7e90a389b1985ba771_18.jpg
    wlcsp35测试座
  • 20250805114753000248/resource/images/803ab12593f44d7e90a389b1985ba771_20.jpg
    wlcsp测试夹具
  • 20250805114753000248/resource/images/803ab12593f44d7e90a389b1985ba771_22.jpg
    BGA测试socket
  • 20250805114753000248/resource/images/803ab12593f44d7e90a389b1985ba771_24.jpg
    晶圆级测试座
  • 20250805114753000248/resource/images/803ab12593f44d7e90a389b1985ba771_26.jpg
    BGA FT socket