深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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QFN/DFN封装系列
  • DFN16老化socket
  • DFN16测试座
  • DFN老炼夹具
  • DFN烧录座
  • DFN芯片测试座
定制DFN16探针HTOL老化座夹具socket

DFN16pin芯片测试座参数:

适配芯片尺寸:5.0x3.0mm

中心引脚间距:0.5mm

Socket壳体:PEI

测试座结构:翻盖式

接触方式:pogoPIN

频率参数:≤500Mhz

最大电流:1A

温度范围:-45°C-+125°C

老化寿命:大于3000小时

销售工程师:黄小二13622364332,huang@hydz999.com

鸿怡电子生产定制的DFN16pin-0.5mm芯片测试座产品介绍
适用规格 适用于DFN封装晶圆、芯片、器件等
支持频率 ≤500Mhz
温度范围 -45℃~+125℃
操作力压 35g每pin,PIN越多需要压力越大
额定电流 单PIN1A
接触电阻 ≤100毫欧
绝缘电阻 DC500V1000兆欧以上
QFN/DFN封装翻盖结构测试座
支持EEPROM,驱动器IC,电源IC等QFN封装,芯片测试座009系列.有翻盖式、旋钮翻盖式、双扣式、分离式结构、下压开窗结构适合自动机台
DFN16pin-0.5mm芯片规格参数

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DFN16pin-0.5mm 芯片测试座图纸

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DFN16pin-0.5mm 芯片测试座产品展示
  • 20250805114753000248/resource/images/b8ee64b91e1a417faa87af5737f9ab98_18.jpgDFN老化夹具
  • 20250805114753000248/resource/images/b8ee64b91e1a417faa87af5737f9ab98_20.jpgDFN16pin测试socket
  • 20250805114753000248/resource/images/b8ee64b91e1a417faa87af5737f9ab98_22.jpgDFN16pin测试座
  • 20250805114753000248/resource/images/b8ee64b91e1a417faa87af5737f9ab98_24.jpgDFN封装socket
  • 20250805114753000248/resource/images/b8ee64b91e1a417faa87af5737f9ab98_26.jpgDFN芯片测试插座
  • 20250805114753000248/resource/images/b8ee64b91e1a417faa87af5737f9ab98_28.jpgDFN烧录座