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定制LGA19pin-0.4mm
芯片测试座
socket
2026-07-28 14:41:22
【产品】
SPECIFICATION1绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+125°C7、使用寿命:20,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX9、中心引脚间距:0.4mm10、适配芯片尺寸:3*3*1.41mm
定制LGA8-0.6mm
芯片测试座
2026-07-28 14:25:43
【产品】
SPECIFICATION1绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+125°C7、使用寿命:20,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX9、中心引脚间距:1.3mm10、适配芯片尺寸:2*2.6*1.2mm
定制LGA118pin-1.27mm
芯片测试座
2026-07-28 11:57:03
【产品】
SPECIFICATION1绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+125°C7、使用寿命:20,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX9、中心引脚间距:1.27mm10、适配模块尺寸:15*15.5*2.82mm
定制QFN40-0.5 7x5x0.943合金翻盖开窗测试座
2026-07-23 14:54:30
【产品】
QFN40pin
芯片测试座
参数:本体尺寸:7*7mm引脚中心间距:0.5mm
芯片测试座
结构:翻盖式Socket壳体:AL6061+PEEK探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACfor1minute绝缘阻抗:1000mΩ500VDC最大电流:1A使用温度:-45°C-+125°C机械寿命:大于60000次(机械测试)技术工程师:13823541217(微信同号)、张工
定制BGA900(31x31)
芯片测试座
socket夹具
2026-07-21 16:36:16
【产品】
SPECIFICATION1、绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+125°C7、使用寿命:大于60,000Times(Mechanical)8、操作力:30g/f每Pin9、测试座结构:翻盖旋钮式10、测试座材料:合金+PAI11、中心引脚间距:1.0mm12、适配芯片尺寸:31x31mm
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满足条件的文章
光学CPU芯片:主流封装、应用与功能/性能/可靠性测试-鸿怡电子
芯片测试座
&老化座协同方案
2026-07-22 08:54:28
【文章】
测试工装夹具的精密性、稳定性、抗干扰性是决定光学CPU测试精度与良率的核心关键。依托鸿怡电子光学CPU专用测试座与温控老化座一体化解决方案,可有效解决行业高速信号失真、光路对位偏差、老化温场不均、测试数据离散等痛点,助力光电芯片企业实现高端光学CPU标准化量产测试与高可靠认证,赋能AI算力、超算、高速数据中心产业高质量迭代。
LPDDR5/LPDDR5X/LPDDR5T内存颗粒芯片测试:鸿怡电子TFBGA441
芯片测试座
socket
2026-07-20 10:10:38
【文章】
鸿怡电子的LPDDR5测试解决方案已批量应用于国内头部存储企业。其测试座支持探针耐插拔次数突破20万次,满足量产场景下的高频次测试需求。在芯片交付质量保障方面,某MCU厂商应用鸿怡电子测试方案后,芯片交付后的早期失效率从1.2%降至0.05%。LPDDR5、LPDDR5X、LPDDR5T三代产品在速率、功耗、制程工艺上持续演进,满足了从移动终端到AI计算、从智能汽车到边缘设备的多元化应用需求。TFBGA441封装凭借其高引脚数、四通道设计和大容量支持,成为高性能LPDDR5内存颗粒的核心封装形式。
DDR内存互联芯片测试:RCD/DB与MRCD/MDB引脚参数及鸿怡电子
芯片测试座
工程应用
2026-07-08 08:52:48
【文章】
当前高速内存互联芯片测试主要痛点:高密度FBGA引脚对位困难、超高速数据信号测试波形失真、高低温工况下探针接触稳定性差;专用定制测试座成为解决该类问题的核心配套工装。随着DDR5内存速率向17600MT/s迭代,MRCD+MDB多路复用芯片市场占比将持续提升,行业对高频、多通道、可老化复用型
芯片测试座
需求将持续上涨。
芯片高温老化测试结温Tj标准与鸿怡电子
芯片测试座
控温方案
2026-07-06 08:53:39
【文章】
芯片结温Tj是半导体可靠性测试的“第一核心温度指标”,不同等级芯片拥有明确的限值标准、失效红线与降额要求。传统测试方式仅凭环境温度估算结温、工装散热不足、温度管控粗放,极易造成测试失真、认证失败与产品可靠性隐患。鸿怡电子系列芯片老化测试座、IC老练夹具、老化测试板,通过低热阻散热结构、精准测温校准、宽温稳定适配、批量量产设计,可标准化解决各类芯片老化过程中的结温超标、数据不准、一致性差等行业难题,为国产芯片研发验证、可靠性认证、规模化量产提供高可靠测试工装支撑。
Buck降压转换器芯片原理应用与测试:LGA30pin封装与鸿怡电子
芯片测试座
方案
2026-06-22 10:06:00
【文章】
Buck降压转换器(DC-DC降压芯片)是电子设备电源架构中用量最大、最核心的功率器件,主打高效降压、宽压适配、低纹波稳压,广泛应用于AI算力终端、车载电子、工业工控、智能IoT设备,负责将高压母线电压精准转换为芯片、传感器、模组所需的低压工作电压。随着设备小型化、高集成化升级,LGA30i-5*6高密度无引脚封装Bu......
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