SPECIFICATION1、绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+125°C7、使用寿命:大于25,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX(根据下针数量)9、测试座结构:翻盖式10、测试座材料:PEI+PEEK11、中心引脚间距:0.75mm12、适配芯片尺寸:6*10mm

3225-4pin晶振测试座参数：支持封装:3225-4L晶振/DFN4pin支持频率：≤1Ghz温度范围：-40℃~125℃操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大额定电流：单PIN1Amax接触电阻：≤50毫欧绝缘电阻：DC500V1000兆欧以上机械寿命：>1.5万次

2016-4pin晶振测试座参数：支持频率：≤1Ghz温度范围：-40℃~125℃操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大额定电流：单PIN1Amax接触电阻：≤50毫欧绝缘电阻：DC500V1000兆欧以上机械寿命：>1.5万次

定制SSOP20pin-0.5mm芯片老化测试座参数：绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:30mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-45°C~+155°C使用寿命:15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX测试座结构:翻盖式测试座材料:PEI+PEEK

定制SOP8pin-1.27mm芯片测试座参数：绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:30mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-45°C~+125°C使用寿命:15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX测试座结构:翻盖式测试座材料:合金+PEEK

芯片测试座、夹具、治具是芯片测试体系中不可或缺的三大核心器件，其中测试座是“接触核心”，夹具是“定位基础”，治具是“功能延伸”。三者的协同配合，直接决定芯片测试的精度、效率与可靠性。鸿怡电子通过对三者的技术创新与一体化设计，不仅解决了多场景测试痛点，更通过场景化定制与成本优化，为消费、车规、工业、医疗等领域的芯片测试提供了高效解决方案。

鸿怡电子专业制造SOP6pin芯片测试座，是一家值得信赖的芯片测试座工厂。其产品性能稳定、耐用性强，广泛适用于芯片测试和研发环境。鸿怡电子以精湛的工艺和高效生产能力，为客户提供优质的SOP芯片测试座解决方案，满足电子行业多样化需求。

定制ICTetSocket产品数据应用Pitch：≥0.2mm；材料：FR4/PPS/PEI/Torlo/Peek/Peek+陶瓷封装：BGA/QFP/QFN/WCSP等结构：双扣、翻盖旋钮、翻盖、Oe-to接触方式：探针产品特点高精度的定位槽和导向孔，测试准确无误根据实际测试，选用不同探针，可以对IC进行有锡球、无锡球不同测试人性化设计，探针可更换，便于拆卸......