深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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LCC/CLCC封装系列
  • LCC封装芯片测试座
  • LCC36pin探针测试socket
  • 定制LCC36pin芯片测试座
  • 定制LCC测试座
  • 定制测试座
定制LCC36-0.65芯片测试座socket_副本

支持频率：≤200Mhz

温度范围：-45℃-125℃

操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大

额定电流：单PIN1A max

接触电阻：≤50毫欧

绝缘电阻：DC500V 1000兆欧以上

机械寿命：>1.5万次

中心引脚间距:0.65mm

适配芯片尺寸:7*7*1.65mm

工程师：13631539217（微信同号）

鸿怡电子生产的LCC36-0.65-7*7合金翻盖测试座产品简介

PLCC、CLCC、LCC区别：

PLCC与CLCC的区别:以前仅在于前者用塑料,后者用陶瓷。 LCC是指无引脚封装，有的也称QFN。适用芯片、模块封装。

LCC36-0.65-7*7*1.65mm芯片规格参数

LCC36-0.65-7*7*1.65mm芯片规格参数

LCC36-0.65-7*7*1.65mm芯片 测试座图纸

LCC36-0.65-7*7*1.65mm芯片测试座图纸

LCC36-0.65-7*7*1.65mm 芯片老化测试座产品展示
  • 芯片测试插座
    芯片测试插座
  • LCC36pin芯片测试socket
    LCC36pin芯片测试socket
  • LCC36pin芯片测试夹具
    LCC36pin芯片测试夹具
  • LCC芯片测试座
    LCC芯片测试座
  • 芯片测试夹具
    芯片测试夹具
  • LCC36芯片测试座socket
    芯片测试座

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