深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
返回产品中心
LCC/CLCC封装系列
  • LCC48探针测试座夹具
  • LCC48pin芯片测试socket
  • LCC48-0.8测试夹具工装
  • LCC封装测试座
  • 芯片测试socket
定制CLCC48-0.8 - 10.9*10.9*2.96mm芯片测试座

支持频率:≤200Mhz

温度范围:-45℃-125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

中心引脚间距:0.8mm

适配芯片尺寸:10.9*10.9*2.96mm

鸿怡电子生产的CLCC48pin-0.8mm-10.9*10.9*2.96mm芯片测试座产品简介

PLCC、CLCC、LCC区别:

PLCC与CLCC的区别:以前仅在于前者用塑料,后者用陶瓷。 LCC是指无引脚封装,有的也称QFN。适用芯片、模块封装。

CLCC48pin-0.8mm芯片规格参数




LCC48-0.8 芯片图纸


CLCC48pin-0.8mm芯片老化测试座图纸

LCC48-0.8 测试座图纸

CLCC48pin-0.8mm芯片老化测试座产品展示
  • IMG_0078_500x405
    LCC测试夹具工装
  • IMG_0079_500x405
    LCC48pin芯片测试socket
  • IMG_0080_500x405
    LCC48pin芯片测试夹具
  • IMG_0081_500x405
    LCC芯片测试座
  • IMG_0082_500x405
    芯片测试夹具
  • IMG_0083_500x405
    芯片测试工装