首页
产品解决方案
定制IC测试座
老化板定制
首页
产品中心
产品解决方案
定制IC测试座
老化板定制
资讯
品牌
联系鸿怡
常见问答
产品中心
非标定制测试座
现货标准品
QFN/DFN封装系列
BGA封装系列
QFP/OTQ封装系列
SOP/OTS封装系列
TO封装系列
LGA封装系列
WLCSP封装系列
LCC/CLCC封装系列
EMMC/EMCP/UFS
SOT封装系列
LPDDR-GDDR-DDR系列
SMA/SMB/SMD系列
SSD-flash存储系列
有源/无源晶振系列
电阻电容电感系列
模块测试座
IGBT和新能源系列
军品/科研/航空
IC/芯片老化板
连接器测试微针模组
定制LCC20-1.27一拖九芯片测试座socket
定制QFN16pin-0.5mm双扣旋钮芯片测试座
定制LCC28-1.27mm测试座socket
定制DFN40-1.04mm芯片测试座socket
定制TSOP48-0.635mm芯片测试座
DDR96pin-0.8mm芯片测试架
定制BGA256测试架治具
定制BGA113-0.5翻盖双面弹片老化座
定制BGA112-0.5导电胶双扣测试座
定制管壳模块14pin-1.1mm芯片测试座
3
/
40
首页
上一页
2
3
4
下一页
末页
