首页
产品解决方案
定制IC测试座
老化板定制
首页
产品中心
产品解决方案
定制IC测试座
老化板定制
资讯
品牌
联系鸿怡
常见问答
产品中心
非标定制测试座
现货标准品
QFN/DFN封装系列
BGA封装系列
QFP/OTQ封装系列
SOP/OTS封装系列
TO封装系列
LGA封装系列
WLCSP封装系列
LCC/CLCC封装系列
EMMC/EMCP/UFS
SOT封装系列
LPDDR-GDDR-DDR系列
SMA/SMB/SMD系列
SSD-flash存储系列
有源/无源晶振系列
电阻电容电感系列
模块测试座
IGBT和新能源系列
军品/科研/航空
IC/芯片老化板
连接器测试微针模组
定制BGA224pin-1.0mm芯片测试座
定制DFN6pin-0.65mm芯片测试socket
定制BGA240-0.6塑胶翻盖探针老化座
定制BGA90-0.77 7.455X7.239合金翻盖旋钮测试座
定制QFP100-0.5 16x16x1.1合金旋钮探针测试座
定制DFN8-0.5mm下压式芯片测试座socket
定制5032（8PIN）-1.27 5X3.2X1.6晶振翻盖测试座
定制QFN32pin-0.5mm 5*5*0.943 芯片老化座
定制BGA256pin-1.0mm 17*17 芯片测试座
定制BGA900pin-0.8mm芯片测试座
3
/
49
首页
上一页
2
3
4
下一页
末页
