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  • T2PAK封装SiC老化座夹具socket

    T2PAK封装SiC老化座夹具socket 2026-09-15 10:22:31 【产品】

    T2PAK封装老化座参数：Socket壳体：PEI测试座结构：opentop接触Pin针：铍铜镀镍镀金接触阻抗：＜100mΩ耐压测试：700VACfor1minute绝缘阻抗：1000mΩ500VDC最大电流：1A使用温度：-45°C~+150°C老化寿命：大于3000小时机械寿命：大于15000次(机械测试)销售工程师：黄小二13622364332(vx同步)邮箱：huang@hydz999.com
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    • 鸿怡电子IC老化座工程师:为什么说芯片老化测试座是芯片可靠性检测的利器？

      鸿怡电子IC老化座工程师:为什么说芯片老化测试座是芯片可靠性检测的利器？ 2026-06-29 09:14:59 【文章】

      鸿怡电子深耕半导体芯片/IC老化测试座领域多年，针对HTOL、THB、HAST、温度循环、功率循环全场景，定制适配多封装、多品类、多规格芯片的芯片老化测试座socket，可完美适配老化板、多工位老化箱自动化产线，广泛应用于消费、工业、新能源车载、射频通信、军工算力芯片的可靠性验证。