定制ESOP8pin-1.27mm芯片老化测试座参数：绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:30mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-45°C~+125°C使用寿命:15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX

CQFP64pin芯片老化测试座产品特点及规格Socket本体：PEI+PEEK探针材料：铍铜探针镀层：镍金操作压力：2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗：50mΩmax耐压测试：700VACforlminute绝缘阻抗：1000m500VDC最大电流：1A使用温度：-45°C-+125*C机械寿命：大于15000次(机械测试)

SPECIFICATION1、绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+150°C7、使用寿命:大于25,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX(根据下针数量)9、测试座结构:翻盖式10、测试座材料:PEI+PEEK11、中心引脚间距:0.8mm12、适配芯片尺寸:9*9mm

SPECIFICATION1、绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-55°C~+175°C7、使用寿命:大于25,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX(根据下针数量)9、老化座结构:下压式10、测试座材料:合金+PEEK11、中心引脚间距:0.65mm12、适配芯片尺寸:4.5*7.5*1.2mm

SPECIFICATION1、绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-55°C~+175°C7、使用寿命:大于25,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX(根据下针数量)9、测试座结构:旋钮翻盖式10、测试座材料:合金+PEEK11、中心引脚间距:0.8mm12、适配芯片尺寸:12*12*1.5mm

鸿怡电子提供先进的电源管理芯片老化测试座，其芯片老化座通过精准测试，确保芯片在各种环境下的长期可靠性。该芯片老化座广泛应用于电源管理领域，提高芯片质量和稳定性，是研发和生产阶段的理想选择。

半导体芯片测试是确保芯片从设计到量产全流程质量的核心环节，而功能测试、性能测试、可靠性测试则是这一过程中的三大支柱。三者相辅相成，缺一不可，共同保障芯片的“正确性”“优越性”与“耐久性”。本文将深入解析这三大测试的技术要求、方法手段及关键设备，并融合鸿怡电子在芯片测试座、芯片老化座与芯片烧录座领域的创新实践，展现国产测试技术的突破与价值。

芯片测试座作为半导体测试流程里的关键部分，在连接芯片与测试设备中扮演着桥梁角色，承担着多项关键测试功能，对保障测试的精准性与可靠性意义重大。