邮票孔测试座、模块测试座、邮票模块测试夹具、邮票孔模块测试socket。
体积小:整体尺寸最小可做到10MM*10MM*6.0MM
可做高频率测试 :最高频率可达-1~-3dB@30GHz
定位精准度高 :加工工艺可达 -+0.01MM
寿命长 :寿命可达10万次(探针机械寿命可达15-20万)
稳定性高 :采用进口工程塑料,耐磨损20-30次,耐高低温-45+170.
可维护性高 :采用模块化设计,全配件可单独更换。
可标准化 :产品设计周期短,交货速度快。
IC测试座
模块测试座
邮票孔测试座
邮票孔模块测试夹具
邮票孔模块测试座
算力之巅,测试为基:鸿怡电子GPU芯片测试治具高严苛测试适配多种规格
压力感应·无处不在—鸿怡电子压力传感器模块/芯片测试座的选型案例
高速DSP处理器芯片测试:鸿怡电子BGA475/BGA621芯片测试座的精准对位
什么是COF封装芯片?芯片测试:鸿怡电子COF芯片测试座socket案例
功率芯片测试:失效模式与三维验证方案—鸿怡电子芯片测试座的协同应用
鸿怡电子功率芯片测试座多场景量产测试—大电流、高频动态等核心痛点
鸿怡电子功率芯片测试座的跃迁:从“能导通”到“高效率、低损耗、强可靠性”
筑牢芯片可靠性防线!一文了解芯片高温老化压力测试标准-(鸿怡电子芯片老化座+老化板)