| 适用 | 芯片/MOS管/三极管/IGBT可靠性测试 |
| 座子 | 翻盖/下压/直插(材质有塑胶和铝合金)>适用于间距0.3mm-2.54mm |
| 测试座材料 | Ceramic PEEK,pps,Torlon, PEI,Vespel SP-1 |
| 座头材料 | AL,Cu,PPS |
| 导电材质 | 探针/弹片 |
| 工作温度 | -55~125度 |
| 座子寿命 | >10万次(因测试条件不同结果不同) |
| 电流 | 1A-100A |
| 电压 | 1700V |
| 电阻 | 100MΩ以下老化时长:>5000H |
HAST老化PCB板
芯片HAST老化板
QFP64pin芯片老炼测试板
HMILU老化板方案
芯片老化板方案
深圳市鸿怡电子有限公司-2026年春节放假通知
核心算力载体:人工智能AI芯片测试基石-鸿怡电子高可靠性芯片测试座
数据中心算力枢纽:国产存储芯片测试“桥梁”-鸿怡电子DDR芯片测试夹具治具
鸿怡电子IC测试座:数字电路测试、模拟电路测试和数模混合电路测试的特性
芯片宽温测试座:解决芯片在不同温度下的可靠性和稳定性测试
电源管理芯片:LDO-DC/AC-BMS-驱动-开关电源等芯片测试-适配测试座socket案例
处理器芯片封装测试:特性-测试类型-适配处理器芯片测试座socket
液冷赋能下AI芯片/模块老化测试的技术突破与适配测试治具实践