| 适用 | 芯片/MOS管/三极管/IGBT可靠性测试 |
| 座子 | 翻盖/下压/直插(材质有塑胶和铝合金)>适用于间距0.3mm-2.54mm |
| 测试座材料 | Ceramic PEEK,pps,Torlon, PEI,Vespel SP-1 |
| 座头材料 | AL,Cu，PPS |
| 导电材质 | 探针/弹片 |
| 工作温度 | -55~125度 |
| 座子寿命 | >10万次(因测试条件不同结果不同) |
| 电流 | 1A-100A |
| 电压 | 1700V |
| 电阻 | 100MΩ以下老化时长:>5000H |
HTOL老化PCB板
芯片HTOL老化板
QFP64pin芯片老炼测试板
HMILU老化板方案
IC老化板方案
鸿怡芯片测试座工程师带您了解探针的种类与应用有哪些？IC测试该选用什么类型探针？
半导体器件为何要做老化测试:老化测试类型与鸿怡IC老练插座的应用
鸿怡电子芯片测试座工程师带您了解芯片测试中的几个术语及解释
鸿怡电子IC/芯片测试/老化耗材工程师：了解芯片测试座、测试夹具、测试治具
栅极驱动光耦:桥接电路的关键组件-光耦应用与IC测试座解决方案
MEMS传感器芯片应用与测试,如何选配“芯片与测试系统的桥梁”？
芯片 ATE 测试座:自动化测试的 “连接中枢”-鸿怡电子
鸿怡电子芯片测试座中的接触类型：Pogo-pin、blade-pin、C-pin、H-pin、X-pin、导电胶
