深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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QFP/OTQ封装系列
  • QFP100-0.4测试座
  • QFP100-0.4烧录座
  • QFP100-0.4转接座
  • QFP100-0.4底座
QFP100-0.4塑胶翻盖弹片焊接老化座

JFPpin芯片测试座参数:
Socket壳体:PEI
探针材料:铍铜
探针镀层:镍金
操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比
接触阻抗:50mΩmax
耐压测试:700V AC for 1minute
绝缘阻抗:1000mΩ 500V
DC最大电流:1A
使用温度:-40°C-+85°C
机械寿命:20000次(机械测试)


鸿怡电子生产的QFP100-0.4翻盖芯片测试座产品介绍
适用规格 支持0.5、0.635、0.65引脚间距QFP封IC
支持频率 ≤300Mhz
温度范围 -40°C~+85°C
操作力压 1.0Kg MAX
额定电流 1Amax/Pin
接触电阻 30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
绝缘电阻 1000mΩMin.At DC 500V
TSSOP封装翻盖结构老化测试座、测试座、烧录座
支持高精度运算芯片、运算放大器芯片、信号处理和数据传输芯片、逻辑芯片等测试、老化、烧录等检测
QFP100-0.4芯片规格参数

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QFP100-0.4mm芯片测试座图纸

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QFP100-0.4芯片测试座产品展示
  • QFP100-0.4-测试座
    QFP100-0.4-测试座
  • QFP100-0.4-测试座
    JFP16-1.27测试座
  • QFP100-0.4-底座
    JFP16-1.27烧录座
  • QFP100-0.4-转接座
    QFP100-0.4-转接座
  • QFP100-0.4-老化座
    JFP16-1.27焊接座
  • QFP100-0.4-转换座
    QFP100-0.4-转换座