深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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LCC/CLCC封装系列
  • LCC8pin-1.27mm -3x3mm一拖十六工位合金旋钮双扣式芯片测试座
  • LCC8pin-1.27mm -3x3mm一拖十六工位合金旋钮双扣式芯片测试座
  • LCC8pin-1.27mm -3x3mm一拖十六工位合金旋钮双扣式芯片测试座
  • LCC8pin-1.27mm -3x3mm一拖十六工位合金旋钮双扣式芯片测试座
  • LCC8pin-1.27mm -3x3mm一拖十六工位合金旋钮双扣式芯片测试座
  • LCC8pin-1.27mm -3x3mm一拖十六工位合金旋钮双扣式芯片测试座
LCC8pin-1.27mm -3x3mm一拖十六工位合金旋钮双扣式芯片测试座

支持频率:≤200Mhz

温度范围:-40℃-170℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次


鸿怡电子生产的LCC8pin一拖16工位合金翻盖式芯片测试座产品简介

PLCC、CLCC、LCC区别:

PLCC与CLCC的区别:以前仅在于前者用塑料,后者用陶瓷。 LCC是指无引脚封装,有的也称QFN。

LCC8pin芯片规格参数

LCC8pin芯片规格参数

LCC8pin芯片测试座图纸

LCC8pin芯片测试座图纸

LCC8pin一拖16工位合金翻盖式芯片测试座产品展示
  • IC测试座IC测试座
  • LCC芯片测试socketLCC芯片测试socket
  • LCC芯片测试夹具LCC芯片测试夹具
  • LCC芯片测试座LCC芯片测试座
  • 芯片测试夹具芯片测试夹具
  • 芯片测试座芯片测试座