深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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WLCSP封装系列
  • 晶圆级芯片测试座
  • WLCSP25pin芯片测试座
  • WLCSP晶圆级芯片测试座
  • WLCSP测试座
  • WLCSP晶圆级芯片测试夹具
定制WLCS25-0.5 (2.415X2.415)合金翻盖探针老化座

1. 微间距适配:探针需精准匹配0.35mm及以上间距的触点,同时避免相邻针尖短路
2. 温度适应性:工作温度范围需覆盖-55°C至120°C,以应对汽车电子/工业设备等严苛环境
3. 高可靠性:插拔次数需超过50万次,确保测试设备长期稳定运行.
2.技术工程师咨询:13823541217  张工


鸿怡电子生产的定制WLCS25-0.5 (2.415X2.415)合金翻盖探针老化座产品介绍

晶圆级芯片封装(WLCSP)因其体积小、性能优的特点,成为消费电子、汽车电子等领域的主流选择1.独特的设计,确保信号路径最短,接触阻抗低,稳定,载流量大,使用寿命约大于10万次;2.自主研发的peek +陶瓷塑料原料,高效耐磨,耐高温,高硬度的板材,从而提供更好的产品性能,满足极端环境检测的需要;3.高级翻盖合金测试座,测试芯片寿命长,适用于WLCSP芯片。


定制WLCS25-0.5 (2.415X2.415)合金翻盖探针老化座芯片图纸参数

芯片

定制WLCS25-0.5 (2.415X2.415)合金翻盖探针老化座图纸
图纸定制WLCS25-0.5 (2.415X2.415)合金翻盖探针老化座产品展示
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    WLCSP芯片测试座
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    WLCSP芯片测试socket
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    WLCSP芯片测试夹具
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    晶圆级芯片测试座
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    晶圆级芯片测试夹具
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    晶圆级芯片测试socket