深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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TO封装系列
  • TO测试夹具
  • TO测试座
  • TO252老化座
  • 功率器件测试socket
  • 功率器件测试夹具
定制TO252-3pin功率器件测试座

TO252-3L测试座参数:

壳体材质:合金; 

含引脚尺寸:6.8*7.1mm

中心引脚间距:2.286mm

接触端子:进口铍铜,触点镀厚金 

高温性能: 

1.120℃-135℃,连续使用大于5000 小时; 

2.135℃-150℃,连续使用时长大于200 小时; 

机械性能:插拔次数50000次; 

额定电流:20A

每pin拔插力度:25g/ pin

深圳鸿怡电子生产定制的功率元器件TO2252-3L测试座socket产品简介

功率元器件TO252-3L测试座socket:

TO封装系列测试座特点
TO(Transistor Outline),即晶体管外形。早期晶体管大都采用同轴封装,后来被借用到光通信中,叫做TO封装,即同轴封装。
功率元器件TO老化座产品特点
①开模注塑成型,精度高,电气性能稳定,生产周期短,生产成本低
②采用顶针式设计,安装拆卸方便,检修容易,PCB老化板可以重复使用
③接触材料采用进口铍铜、表层加厚镀金,接触阻抗小、弹性好、可靠性高
鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket和Test-Socket,产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等。

功率元器件TO252图纸

功率器件TO252-3pin图纸

功率元器件TO252-3pin测试座图纸

功率器件TO252-3pin测试座图纸

功率元器件TO252-3pin测试座socket产品展示
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