功率元器件TO252-3L测试座socket:
TO封装系列测试座特点
TO(Transistor Outline),即晶体管外形。早期晶体管大都采用同轴封装,后来被借用到光通信中,叫做TO封装,即同轴封装。
功率元器件TO老化座产品特点
①开模注塑成型,精度高,电气性能稳定,生产周期短,生产成本低
②采用顶针式设计,安装拆卸方便,检修容易,PCB老化板可以重复使用
③接触材料采用进口铍铜、表层加厚镀金,接触阻抗小、弹性好、可靠性高
鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket和Test-Socket,产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU
socket等。
功率器件TO测试插座
TO252封装测试夹具
TO测试夹具
功率元器件测试socket
TO252测试座
TO封装测试座
深圳市鸿怡电子有限公司-2026年春节放假通知
核心算力载体:人工智能AI芯片测试基石-鸿怡电子高可靠性芯片测试座
数据中心算力枢纽:国产存储芯片测试“桥梁”-鸿怡电子DDR芯片测试夹具治具
鸿怡电子IC测试座:数字电路测试、模拟电路测试和数模混合电路测试的特性
芯片宽温测试座:解决芯片在不同温度下的可靠性和稳定性测试
电源管理芯片:LDO-DC/AC-BMS-驱动-开关电源等芯片测试-适配测试座socket案例
处理器芯片封装测试:特性-测试类型-适配处理器芯片测试座socket
液冷赋能下AI芯片/模块老化测试的技术突破与适配测试治具实践