深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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QFP/OTQ封装系列
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  • QFP封装芯片插座
  • 老化座夹具测试座
  • 老化座QFP封装夹具
定制QFP128-0.4mm芯片测试座

QFP128pin芯片测试座产品特点及规格

Socket本体:合金+PEEK

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for lminute

绝缘阻抗:1000m500V DC

最大电流:1A

使用温度:-45°C-+125*C

机械寿命:大于15000次(机械测试)


鸿怡电子生产的定制QFP128-0.4  16x16x1.6 合金双扣旋钮测试座产品简介

QFP/LQFP/TQFP/OTQ封装翻盖结构测试座支持 EEPROM,驱动器IC,电源IC等。

QFP封装是元件封装的一种形式,常用的封装材料有:塑料、陶瓷、玻璃、金属等,基本上采用塑料封装,应用范围广泛,主要用于各种集成电路。

测试座分为翻盖和下压结构,现有适配芯片尺寸间距为:0.4、0.5、0.8mm

QFP128pin-0.4mm芯片图纸

芯片测试座

QFP128pin-0.4mm芯片测试座图纸

QFP封装芯片socket

QFP128pin-0.4mm芯片测试座产品展示
  • 芯片测试座
    IC测试座
  • QFP芯片测试socket
    QFP144pin探针测试座
  • 老化夹具插座
    QFP测试座
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