深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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QFN/DFN封装系列
  • QFN测试夹具
  • QFN封装芯片
  • QFN芯片测试夹具
  • 芯片测试socket
  • QFN16pin探针测试座
定制QFN16pin-0.5mm双扣旋钮芯片测试座

QFN16pin芯片测试座参数:

支持封装形式:QFN16pin/DFN16pin

本体尺寸:6*6mm

引脚中心间距:1.0mm

Socket壳体:合金+PEEK

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for 1minute

绝缘阻抗:1000mΩ 500V DC

最大电流:1A

使用温度:-45°C-+125°C

机械寿命:大于15000次(机械测试)

鸿怡电子生产的QFN16pin-1.0mm-6*6mm芯片测试座产品介绍
适用规格 16-88pin,0.4、0.5、1.27引脚间距QFN/LCC封装的IC
支持频率 ≤300Mhz
温度范围 -45℃-125℃
操作力压 35g每pin,PIN越多需要压力越大
额定电流 单PIN1A
接触电阻 ≤100毫欧
绝缘电阻 DC500V1000兆欧以上
QFN/DFN封装、有的也称为LCC、翻盖结构测试座
支持EEPROM,驱动器IC,电源IC等QFN封装,芯片测试座009系列.有翻盖式、旋钮翻盖式、双扣式、分离式结构、下压开窗结构适合自动机台
QFN16pin-0.5mm芯片图纸(保密)


QFN16pin-0.5mm芯片测试座图纸(保密)


QFN16pin-0.5mm芯片测试座产品展示
  • 20250805114753000248/resource/images/6632f8dc85f94fe59ef8e24cfd5c72ad_16.jpgQFN16pin芯片测试座
  • 20250805114753000248/resource/images/6632f8dc85f94fe59ef8e24cfd5c72ad_24.jpgQFN16pin芯片测试socket
  • 20250805114753000248/resource/images/6632f8dc85f94fe59ef8e24cfd5c72ad_22.jpgQFN16pin芯片测试夹具
  • 20250805114753000248/resource/images/6632f8dc85f94fe59ef8e24cfd5c72ad_26.jpgQFN16pin芯片测试座
  • 20250805114753000248/resource/images/6632f8dc85f94fe59ef8e24cfd5c72ad_28.jpg芯片测试夹具
  • 20250805114753000248/resource/images/6632f8dc85f94fe59ef8e24cfd5c72ad_30.jpg芯片测试座