深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
返回产品中心
LCC/CLCC封装系列
  • 测试socket
  • CLCC芯片测试夹具
  • CLCC探针芯片插座
  • CLCC芯片测试座
  • CLCC76探针测试座夹具
定制LCC76模块-0.9(20X20mm)合金翻盖探针测试座

支持频率:≤200Mhz

温度范围:-45℃-125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

中心引脚间距:0.9mm

适配芯片尺寸:20*20mm

技术工程师:13823541217(微信同号)、张工

鸿怡电子生产定制LCC76模块-0.9(20X20mm)合金翻盖探针测试座产品简介

PLCC、CLCC、LCC区别:

PLCC与CLCC的区别:以前仅在于前者用塑料,后者用陶瓷。 LCC是指无引脚封装,有的也称QFN。适用芯片、模块封装。

定制LCC76模块-0.9(20X20mm)合金翻盖探针测试座芯片规格参数

芯片

定制LCC76模块-0.9(20X20mm)合金翻盖探针测试座图纸

座子

定制LCC76模块-0.9(20X20mm)合金翻盖探针测试座产品展示
  • 20250805114753000248/resource/images/4ab6db10bb1d4ce880ed23d6ae9eb910_80.jpg
    测试插座
  • 20250805114753000248/resource/images/4ab6db10bb1d4ce880ed23d6ae9eb910_82.jpg芯片测试socket
  • 20250805114753000248/resource/images/4ab6db10bb1d4ce880ed23d6ae9eb910_84.jpg
    CLCC芯片测试夹具
  • 20250805114753000248/resource/images/4ab6db10bb1d4ce880ed23d6ae9eb910_86.jpg
    CLCC芯片测试座
  • 20250805114753000248/resource/images/4ab6db10bb1d4ce880ed23d6ae9eb910_88.jpg
    芯片测试夹具
  • 20250805114753000248/resource/images/4ab6db10bb1d4ce880ed23d6ae9eb910_90.jpg
    芯片测试工装