深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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LCC/CLCC封装系列
  • 老化座
  • LCC测试夹具
  • LCC探针测试座
  • 定制夹具插座芯片测试座
定制LCC56pin-0.5mm芯片测试座socket

支持频率:≤200Mhz

温度范围:-45℃-125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

中心引脚间距:0.5mm

适配芯片尺寸:10.5*10.5mm

鸿怡电子生产的定制LCC56PIN-0.5  10.5X10.5X1.4塑胶翻盖测试座产品简介

PLCC、CLCC、LCC区别:

PLCC与CLCC的区别:以前仅在于前者用塑料,后者用陶瓷。 LCC是指无引脚封装,有的也称QFN。适用芯片、模块封装。

LCC56pin-0.5mm芯片规格参数

定制测试座

LCC56pin-0.5mm 芯片 测试座图纸

定制探针测试座

LCC56pin-0.5mm   芯片 测试座产品展示
  • 定制测试座
    LCC56pin芯片测试插座
  • LCC56pin芯片测试socket
    LCC56pin芯片测试socket
  • LCC56pin芯片测试夹具
    LCC56pin芯片测试夹具
  • LCC芯片测试socket
    LCC芯片测试socket
  • LCC芯片测试夹具
    LCC芯片测试夹具
  • LCC芯片测试夹具
    LCC芯片测试座