深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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LCC/CLCC封装系列
  • IC测试座
  • LCC芯片测试socket
  • LCC芯片测试基座
  • LCC芯片测试座
  • 芯片测试socket_
  • 芯片测试夹具
定制LCC20pin-2.54mm芯片测试座

支持频率：≤200Mhz

温度范围：-45℃-125℃

操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大

额定电流：单PIN1A max

接触电阻：≤50毫欧

绝缘电阻：DC500V 1000兆欧以上

机械寿命：>1.5万次

中心引脚间距:2.54mm

适配芯片尺寸:21.7*21.7mm

鸿怡电子生产的LCC20pin-2.54mm-21.7*21.7mm芯片测试座产品简介

PLCC、CLCC、LCC区别：

PLCC与CLCC的区别:以前仅在于前者用塑料,后者用陶瓷。 LCC是指无引脚封装，有的也称QFN。适用芯片、模块封装。

LCC20pin-2.54mm芯片图纸

LCC20pin-2.54mm芯片图纸

LCC20pin-2.54mm芯片 测试座图纸

LCC20pin-2.54mm芯片测试座图纸

LCC20pin-2.54mm芯片 测试座产品展示
  • LCC20pin芯片测试座LCC20pin芯片测试插座
  • LCC芯片测试夹具LCC20pin测试socket
  • LCC20pin芯片测试socketLCC20pin测试夹具
  • LCC芯片测试socketLCC芯片测试socket
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  • LCC20pin-2.54mm socketLCC芯片测试座

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