深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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有源/无源晶振系列
  • HMILU晶振测试座
  • 3225测试座
  • 3225晶振测试夹具
  • 3225晶振测试座
  • 3225晶振一拖多工位测试座
定制晶振3225-4pin一拖十六工位测试座

3225-4pin晶振测试座参数:

支持封装:3225-4L晶振/DFN4pin

支持频率:≤1Ghz

温度范围:-40℃~125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN 1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

深圳鸿怡电子生产定制的3225-4pin-2.24mm-3.2*2.5mm一拖十六工位晶振测试座产品简介

贴片晶振以及微小芯片测试座:

贴片晶振是一种封装形式为贴片的晶振器件。它通常采用表面贴装技术(SMT)封装,具有小尺寸、轻量、易于安装等特点。需要注意的是,测试时需要确保测试环境的稳定性,避免干扰信号对测试结果的影响。另外,如果晶振无法正常工作,可能是晶振本身故障或者外部电路问题,可以进一步检查和排除故障。

3225-4pin晶振规格参数

3225-4pin晶振图纸

3225-4pin一拖十六工位晶振测试座图纸

3225-4pin晶振测试座图纸

3225-4pin一拖十六工位晶振测试座产品展示
  • 3225-4pin晶振测试座贴片晶振测试座
  • 3225-4pin晶振测试夹具晶振测试socket
  • 3225-4pin晶振测试socket晶振测试夹具
  • 3225晶振测试socket晶振测试座
  • 3225晶振测试座3225-4pin晶振测试座
  • 3225晶振测试夹具3225-4L晶振测试座