深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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EMMC/EMCP/UFS系列
  • EMMC芯片测试座
  • 存储芯片测试座
  • EMMC测试座
  • EMMC芯片测试夹具
  • EMMC芯片测试socket
定制EMMC153存储芯片测试座

EMMC153存储芯片测试座参数:

中心引脚间距:0.5mm

适配芯片尺寸:11.5*13.5mm

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute At AC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.

工作温度:-55°C ~+175°C

最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试),HS400/HS200

操作力:15~30g/Pin MAX

鸿怡电子生产的EMMC153pin存储芯片测试座产品介绍

eMMC/EMCP/UFS系列测试座,老化座,烧录座

eMMC (Embedded Multi MediaCard)是MMC协会订立、主要针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格。

eMMC在封装中集成了一个控制器,提供标准接口并管理闪存,使得手机厂商就能专注于产品开发的其它部分,并缩短向市场推出产品的时间。eMMC芯片一般为1.8V和3.3V;目前鸿怡电子拥有齐全的 eMMC系列老化测试,烧录以及功能性测试座,包括eMMC153/221/529/254/162/186甚至UFS2.1以上所有封装的测试座。

EMMC153pin存储芯片图纸

EMMC153pin芯片图纸.png

EMMC153pin存储芯片测试座图纸

EMMC153pin芯片测试座图纸

EMMC153pin存储芯片测试座产品展示
  • EMMC测试座.jpgEMMC测试座
  • EMMC153pin芯片测试座.jpgEMMC封装芯片测试座
  • EMMC153pin芯片测试夹具EMMC芯片测试座
  • EMMC存储芯片测试座IC测试座
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