| 适用规格 | 适用于DFN封装晶圆、芯片、器件等 |
| 支持频率 | ≤300Mhz |
| 温度范围 | -45℃-125℃ |
| 操作力压 |
35g每pin,PIN越多需要压力越大 |
| 额定电流 |
单PIN1A |
| 接触电阻 | ≤100毫欧 |
| 绝缘电阻 | DC500V1000兆欧以上 |
|
QFN/DFN封装翻盖结构测试座 支持EEPROM,驱动器IC,电源IC等QFN封装,芯片测试座009系列.有翻盖式、旋钮翻盖式、双扣式、分离式结构、下压开窗结构适合自动机台 |
|
DFN测试插座
DFN8pin测试socket
DFN8pin测试夹具
DFN封装测试座
DFN芯片测试座
DFN测试socket
鸿怡电子芯片测试座工程师带您了解芯片测试中的几个术语及解释
鸿怡电子IC/芯片测试/老化耗材工程师:了解芯片测试座、测试夹具、测试治具
栅极驱动光耦:桥接电路的关键组件-光耦应用与IC测试座解决方案
MEMS传感器芯片应用与测试,如何选配“芯片与测试系统的桥梁”?
芯片 ATE 测试座:自动化测试的 “连接中枢”-鸿怡电子
鸿怡电子芯片测试座中的接触类型:Pogo-pin、blade-pin、C-pin、H-pin、X-pin、导电胶
芯片测试类型:芯片电性测试和芯片电气测试-鸿怡电子芯片测试座的选型
鸿怡芯片测试方案:BGA芯片封装?BGA芯片测试?BGA芯片测试座