DDR Memory系列测试座:DDR为易失性存储器,分为SRAM和DRAM,其中DRAM又分为SDRAM和DDR_SDRAM,我们所说的DDR3、DDR4、LPDDR4、LPDDR5、DDR5等是属于DDR SDRAM。
台式主机上使用的,我们一般叫做内存条,学名DIMM,是多个DDR颗粒组成的模块。笔记本的内存条尺寸较小,我们一般成为SO-DIMM,服务器用的则是RDIMM和 UDIMM、LRDIMM。以上这些产品我们均有对应的老化测试座以及功能测试座和对应的测试治具。
采用DDR3内存条公板,兼容性好。支持多尺寸测试,更换内存条夹具限位框即可
接触方式:探针 外壳材质:合金
应用IC:DDR200 结构:翻盖式
最高频率:7800MHZ 使用寿命:10万次
额定电流:1A 工作温度:-55°℃ ~+125°C
常见尺寸:9*11mm






芯片ESD可靠性测试和ESD功能性测试-芯片测试座解决方案
Enplas停止芯片测试座产线-哪个品牌能成为进口测试座替代的主流选择?
为电源芯片/模块测试服务:鸿怡电子电源模块LGA72pin封装老化测试座socket应用案例
核心算力载体:人工智能AI芯片测试基石-鸿怡电子高可靠性芯片测试座
数据中心算力枢纽:国产存储芯片测试“桥梁”-鸿怡电子DDR芯片测试夹具治具
鸿怡电子IC测试座:数字电路测试、模拟电路测试和数模混合电路测试的特性
芯片宽温测试座:解决芯片在不同温度下的可靠性和稳定性测试
电源管理芯片:LDO-DC/AC-BMS-驱动-开关电源等芯片测试-适配测试座socket案例