深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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LCC/CLCC封装系列
  • CLCC芯片测试socket
  • CLCC芯片测试夹具
  • CLCC探针芯片插座
  • CLCC芯片测试座
  • CLCC48探针测试座夹具
定制CLCC48-0.8 - 11*11*2.2mm芯片测试座

支持频率：≤200Mhz

温度范围：-45℃-125℃

操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大

额定电流：单PIN1A max

接触电阻：≤50毫欧

绝缘电阻：DC500V 1000兆欧以上

机械寿命：>1.5万次

中心引脚间距:0.8mm

适配芯片尺寸:11*11*2.2mm

鸿怡电子生产的CLCC48pin-0.8mm-11*11*2.2mm芯片测试座产品简介

PLCC、CLCC、LCC区别：

PLCC与CLCC的区别:以前仅在于前者用塑料,后者用陶瓷。 LCC是指无引脚封装，有的也称QFN。适用芯片、模块封装。

CLCC48pin-0.8mm芯片规格参数

LCC48-0.8芯片图纸

CLCC48pin-0.8mm芯片老化测试座图纸

LCC48-0.8测试座图纸

CLCC48pin-0.8mm芯片老化测试座产品展示
  • CLCC48测试座_500x405
    芯片测试插座
  • CLCC48探针测试座夹具_500x405
    CLCC48pin芯片测试socket
  • CLCC封装芯片老化座_500x405
    CLCC48pin芯片测试夹具
  • CLCC探针芯片插座_500x405
    CLCC芯片测试座
  • IMG_9934_500x405
    芯片测试夹具
  • IMG_9937_500x405
    芯片测试座

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