深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
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BGA封装系列
  • 定制BGA337pin芯片测试座
  • 定制BGA337芯片探针测试座
  • BGA芯片测试座
  • BGA337-0.8合金翻盖旋钮测试夹具
定制BGA337-0.8mm芯片测试座_副本

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-45°C ~+125°C
7、使用寿命:大于25,000 Times(Mechanical)
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试座结构:旋钮翻盖式
10、测试座材料:合金+PEEK
11、中心引脚间距:0.8mm
12、适配芯片尺寸:16*16mm

联系工程师:电话微信同号:13267043095(高工)

深圳鸿怡电子生产定制BGA337-0.8(16*16)mm合金旋钮翻盖测试座产品简介

BGA测试座产品特点
1、 采用旋钮翻盖式结构,操作方便;
2、上盖的IC压板采用翻盖式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
3、探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
4、高精度的定位槽,保IC定位以及焊盘精确导通;
5、采用浮板结构有球无球都能测
6、镀金探针材料
7、探针可更换,维修方便,成本低
8、绝缘材料制作;
9、最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离);


 

BGA337-0.8mm芯片图纸

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BGA337-0.8mm 芯片 测试座图纸

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BGA336-0.8mm 芯片测试座socket产品展示
  • BGA芯片测试座
    BGA芯片测试座
  • BGA老化座
    芯片测试座
  • BGA芯片测试夹具
    BGA芯片测试座
  • BGA芯片测试座socket
    BGA芯片测试座socket
  • 芯片测试socket
    芯片测试socket
  • 芯片测试夹具
    芯片测试夹具