鸿怡芯片测试座工程师带您了解探针的种类与应用有哪些？IC测试该选用什么类型探针？

电子行业有很多测试场合，如晶圆测试、封装测试、PCB...

半导体器件为何要做老化测试:老化测试类型与鸿怡IC老练插座的应用

老化测试（又称“老练测试”）的核心价值，就是通过“加...

鸿怡电子芯片测试座工程师带您了解芯片测试中的几个术语及解释

现在对于一般的wafer工艺，很多公司多把CP给省了...

鸿怡电子IC/芯片测试/老化耗材工程师：了解芯片测试座、测试夹具、测试治具

芯片测试座、夹具、治具是芯片测试体系中不可或缺的三大...

栅极驱动光耦:桥接电路的关键组件-光耦应用与IC测试座解决方案

光耦作为电气隔离的“安全卫士”，其性能可靠性直接决定...

MEMS传感器芯片应用与测试,如何选配“芯片与测试系统的桥梁”？

MEMS传感器芯片测试座作为“芯片与测试系统的桥梁”...

芯片 ATE 测试座:自动化测试的 “连接中枢”-鸿怡电子

芯片ATE（AutomaticTestEquipme...

鸿怡电子芯片测试座中的接触类型：Pogo-pin、blade-pin、C-pin、H-pin、X-pin、导电胶

一、核心认知：接触类型是IC/芯片测试座“性能底线”...

芯片测试类型：芯片电性测试和芯片电气测试-鸿怡电子芯片测试座的选型

芯片电性测试聚焦核心电学性能参数的精准验证，侧重芯片...

鸿怡芯片测试方案：BGA芯片封装？BGA芯片测试？BGA芯片测试座

一、BGA封装芯片简介BGA（BallGridArr...