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鸿怡芯片测试座
工程师带您了解探针的种类与应用有哪些?IC测试该选用什么类型探针?
2025-11-11 09:42:00
【文章】
电子行业有很多测试场合,如晶圆测试、封装测试、PCB裸板测试、负载板的在线测试和功能测试(FCT)以及电池测试。根据功能测试的不同,鸿怡电子IC测试座工程师将测试分为开/短测试、大电流测试、高频测试、开关测试等。
鸿怡芯片测试座
:关于芯片振动测试中如何保障电性连接和压力值
2025-10-10 09:31:28
【文章】
芯片作为电子设备的核心部件,其在振动环境中的可靠性直接决定终端产品寿命。振动测试通过模拟机械应力环境,暴露芯片封装缺陷、焊点疲劳、引脚接触不良等隐患,主要分为通电与不通电两大类,其中又以正弦波、随机振动为核心激励方式,最终服务于抗振动性能评估。
在各类封装形式的芯片测试中,使用的芯片测试座可以支持多大的电流?
2025-09-22 10:29:47
【文章】
鸿怡芯片测试座
电流支持范围覆盖0.2A(常规信号)至50A(大电流场景),其性能优势体现在材料创新(如铍铜合金、钛合金)、结构优化(同轴探针、多针并联)和场景适配(车规、消费电子、工业)。客户可根据具体芯片功率、封装形式和测试环境,选择最适合的测试方案