首页
产品解决方案
定制IC测试座
老化板定制
首页
产品中心
产品解决方案
定制IC测试座
老化板定制
资讯
品牌
联系鸿怡
常见问答
所有
产品 (5)
文章 (1)
选择范围:
不限时间
1天内
1周内
1月内
筛选
满足条件的产品
定制存储芯片BGA96pin测试座
2026-01-22 16:12:54
【产品】
BGA96pin-0.8
存储芯片测试座
产品特点:体积小:整体尺寸最小可做到10MM*10MM*6.0MM可做高频率测试:最高频率可达-1~-3dB@30GHz定位精准度高:加工工艺可达-+0.01MM寿命长:寿命可达10万次(探针机械寿命可达15-20万)稳定性高:采用合金材料,耐磨损20-30万次,耐高低温-45~+125。可维护性高:采用模块化设计,全配件可单独更换。可标准化:产品设计周期短,交货速度快。
定制存储芯片BGA54pin测试座
2026-01-19 10:40:12
【产品】
BGA54pin-0.8
存储芯片测试座
产品特点:体积小:整体尺寸最小可做到10MM*10MM*6.0MM可做高频率测试:最高频率可达-1~-3dB@30GHz定位精准度高:加工工艺可达-+0.01MM寿命长:寿命可达10万次(探针机械寿命可达15-20万)稳定性高:采用合金材料,耐磨损20-30万次,耐高低温-45~+125。可维护性高:采用模块化设计,全配件可单独更换。可标准化:产品设计周期短,交货速度快。
定制UFS153(87pin)-0.5mm芯片测试座
2025-10-30 15:11:57
【产品】
UFS153pin
存储芯片测试座
参数:实际下针87pin绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-55°C~+125°C最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试),HS400/HS200操作力:15~30g/PinMAX
定制EMMC153
存储芯片测试座
2025-09-28 14:25:21
【产品】
EMMC153
存储芯片测试座
参数:中心引脚间距:0.5mm适配芯片尺寸:11.5*13.5mm绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-55°C~+175°C最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试),HS400/HS200操作力:15~30g/PinMAX
EMMC56pin-0.5mm-11.5×13mm合金下压式双面弹
存储芯片测试座
2025-08-11 19:54:17
【产品】
EMMC56pin芯片测试座参数:绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-55°C~+175°C最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试),HS400/HS200操作力:15~30g/PinMAX
查看更多...
满足条件的文章
内存颗粒DRAM、SRAM、NAND、DIMM、LOGIC-DDR
存储芯片测试座
解决方案
2025-08-05 15:54:36
【文章】
DDR存储芯片类型包含DRAM(动态随机存取存储器)、SRAM(静态随机存取存储器)、NAND闪存、DIMM(双列直插内存模块)、LOGIC芯片(内存控制器/PHY)等类型。