深圳市鸿怡电子有限公司

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  • 功率芯片测试：失效模式与三维验证方案—鸿怡电子芯片测试座的协同应用

    功率芯片测试：失效模式与三维验证方案—鸿怡电子芯片测试座的协同应用 2026-04-20 09:21:14 【文章】

    功率芯片的测试可靠性，直接决定芯片研发验证的准确性与量产交付的合格率，而芯片测试座作为连接芯片与测试系统的核心接口，其性能稳定性更是关键支撑。当前，新能源车、AI服务器等场景对功率芯片的高效率、低损耗、强可靠性要求持续提升，测试座的失效的不仅会导致测试数据失真、误判，更可能延误研发周期、增加量产......