深圳市鸿怡电子有限公司

为解决锂电池测试的痛点而生 大电流弹片微针模组
返回产品中心
LCC/CLCC封装系列
  • CLCC芯片老化座
  • CLCC芯片老炼夹具
  • IC老化测试夹具
  • IC老化座
  • 芯片老化座
  • CLCC芯片老炼夹具
定制CLCC22pin-4mm老化测试座

支持频率：≤200Mhz

温度范围：-45℃-155℃

操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大

额定电流：单PIN1A max

接触电阻：≤50毫欧

绝缘电阻：DC500V 1000兆欧以上

机械寿命：>1.5万次

中心引脚间距:4.0mm

适配芯片尺寸:32*22mm

鸿怡电子生产的CLCC22pin-4.0mm-32*22mm芯片老化测试座产品简介

PLCC、CLCC、LCC区别：

PLCC与CLCC的区别:以前仅在于前者用塑料,后者用陶瓷。 LCC是指无引脚封装，有的也称QFN。适用芯片、模块封装。

CLCC22pin-4.0mm芯片规格参数

CLCC22pin芯片图纸

CLCC22pin-4.0mm芯片老化测试座图纸

CLCC22pin芯片测试座图纸

CLCC22pin-4.0mm芯片老化测试座产品展示
  • CLCC22pin芯片测试座芯片老化测试插座
  • CLCC22pin芯片老化测试座LCC芯片老化测试socket
  • CLCC22pin芯片老化测试夹具LCC芯片老化测试夹具
  • CLCC芯片老化测试夹具LCC芯片老化测试座
  • CLCC芯片老化测试座芯片老化测试夹具
  • CLCC芯片老化测试socket芯片老化测试座

相关产品

更多

定制模块18pin-1.1mm测试座

定制QFP128-0.4mm芯片测试座

最新资讯

更多