首页
产品解决方案
定制IC测试座
老化板定制
首页
产品中心
产品解决方案
定制IC测试座
老化板定制
资讯
品牌
联系鸿怡
常见问答
产品中心
非标定制测试座
现货标准品
QFN/DFN封装系列
BGA封装系列
QFP/OTQ封装系列
SOP/OTS封装系列
TO封装系列
LGA封装系列
WLCSP封装系列
LCC/CLCC封装系列
EMMC/EMCP/UFS
SOT封装系列
LPDDR-GDDR-DDR系列
SMA/SMB/SMD系列
SSD-flash存储系列
有源/无源晶振系列
电阻电容电感系列
模块测试座
IGBT和新能源系列
军品/科研/航空
IC/芯片老化板
连接器测试微针模组
定制QFN100pin-0.5芯片探针测试座
定制QFN73pin-0.65蓝牙芯片探针测试座
定制DFN4pin-0.5mm芯片测试座
定制BGA1024-1.0mm探针测试座socket
SOP4(28)-2.54芯片测试座
SOP8(28)-2.54芯片测试座
SOP6(28)-2.54芯片测试座
定制26PIN-1.4mm蝶形封装芯片测试座socket
定制邮票孔模块16PIN-1.27mm下压探针烧录座
BGA132pin-1.0存储芯片老化测试座
12
/
40
首页
上一页
11
12
13
下一页
末页
