大电流、高频动态、大功耗、长寿命是功率芯片量产测试的四大核心场景，各场景的痛点均集中在测试座的接触可靠性、寄生参数控制、散热性能及耐用性上，直接影响测试精度、效率、良率及成本控制。随着功率芯片向高频化、高功率、小型化演进，尤其是第三代半导体材料的广泛应用，对测试座的性能要求进一步提升，测试座已成为功率芯片量产测试中不可或缺的核心配套设备。